<address id="1zzb3"></address>
    <noframes id="1zzb3"><form id="1zzb3"></form>

    <form id="1zzb3"></form>

    <noframes id="1zzb3"><em id="1zzb3"></em>

      全國服務熱線
      0512-6883-0001
      18016327626
      用X射線熒光法測定鋼上金屬涂層重量(質量)的標準試驗方法 ASTM A754/A754M-18(中文翻譯版)

      用X射線熒光法測定鋼上金屬涂層重量(質量)的標準試驗方法 ASTM A754/A754M-18(中文翻譯版)(僅供參考)

      1. 目的Purpose

      本標準試驗方法涵蓋了使用X射線熒光(XRF)測定鋼板上金屬涂層的重量(質量)的程序。

       

      2. 范圍Scope

      測量方法適用于連續生產線上涂層的在線測量,還包括X射線管和同位素涂層重量(質量)測量儀器的程序。

       

      3. 職責Responsibility

      程序執行:實驗室授權制樣人員

      程序監督:實驗室技術負責人及相關責任人

       

      4. 原理Principle

      4.1通過X射線熒光法測量涂層厚度是基于涂層和基底的聯合作用,以及來自X射線或同位素源的強烈一次輻射束。這種相互作用產生了具有明確能量的X射線。這些熒光X射線是由一個輻射探測器探測到的,它可以區分次級束中選定的能級。

      4.1.1輻射探測器可以區分特定的熒光X射線,因為由主光束和被熒光表面之間的相互作用產生的X射線具有目標材料中每個元素所特有的能級。每一種元素都以其特有的能量發光。因此,可以分別檢測涂層或基底材料中的元素的熒光輻射。

      4.1.2探測系統包括輻射探測器以及合適的電子識別電路。

      4.1.3由于探測器捕獲的二次輻射強度與涂層材料厚度之間存在定量關系,因此可以確定涂層的厚度。樣品的厚度可以通過比較測量的強度和一系列標準的強度來確定。

      4.1.4涂層重量(質量)可根據特定涂層類型的測量涂層厚度計算。實際上,電子設備是用來報告涂層重量(質量)的常用單位,如oz/ft2[g/m2]。

      4.2測量技術:

      4.2.1采用兩種測量技術。第一種技術是直接測量涂層本身發出的熒光X射線的強度。使用該方法,涂層重量(質量)與涂層發射的熒光X射線強度相關。

      ......

       

      5. 術語及定義Terms and Definition

      5.1金屬涂層鋼產品相關術語的一般定義,見術語A902。

      5.2本標準專用術語定義:

      5.2.1平均時間,n—在每次更新涂層重量(質量)輸出之前,電子測量儀器獲取樣品或計數的時間。

      5.2.2響應時間,n—涂層重量(質量)計檢測涂層重量(質量)10%階躍變化90%所需的時間。

      5.2.3樣品,n必須在標準條件下測量的移動板面積,以確定涂層重量(質量)的單一測定。

      5.2.4標準,n用于校準測量儀器的外部或內部物理標準。

      5.2.5基材,n—在其上涂覆金屬涂層的鋼板。

      ......

       

      6. 影響精度的因素Factors Affecting Accuracy

      6.1使用XRF進行涂層重量(質量)測量的設備通常包括輻射源、探測器和處理檢測信號的電子系統。樣品從光源吸收輻射并產生熒光輻射。探測器探測到這種輻射,電子系統將其轉換成涂層重量(質量)信息。由于X射線測量基本上是隨機事件的累積,累積時間必須足夠長,才能產生統計上可接受的數據。涂層重量(質量)測量的精度取決于設備和數據采集時間。然而,沒有一個好的校準曲線,高精度的設備就不能產生精確的結果。例如,非常厚的涂層可以產生非常精確的X射線熒光信號,但它可能在設備的范圍之外。因此,測量精度取決于設備、數據采集時間和儀器校準。環境也可能影響測量精度。由于設備和涂層各有其獨特的特性,在采購和安裝之前,應仔細審查設備規范。

      6.2為了準確測量涂層重量(質量),光源必須具有足夠的強度,以從整個感興趣樣品體積產生熒光輻射。感興趣的樣品體積隨所使用的XRF方法而變化。當使用來自涂層的熒光測量涂層重量(質量)時,樣品體積是涂層的整個層。當使用來自基板的熒光時,感興趣的樣品體積是整個基板或涂層下基板的5/μμ是基板對主光束能量的吸收系數)厚度中的較小者。輻射光斑尺寸必須足夠大,以覆蓋程序中所述的樣品區域(參考表1)??墒褂脺y量儀器的涂層重量(質量)范圍取決于源的強度和涂層成分。如果涂層厚度超過5/μ(熒光束能量的涂層厚度的μ),則5/μ厚度下產生的XRF由于吸收而無法從涂層中出現。涂層厚度5/μ被定義為臨界厚度。如果涂層很薄,則可能沒有來自涂層的足夠信號。

      1 定義單個數據點(單個點)的控制變量

      image.png//// 

      AX射線管和同位素涂層重量計用于確定是否符合涂層重量(質量)規范時,鋅涂層的精確度降低到1.3 oz/ft2/[400 g/m2/],錫涂層的精確度降低到0.066 oz/ft2/[20 g/m2/],鋁涂層的精確度降低到0.82 oz/ft2/[250 g/m2/]。

      ......

      6.4所需的數據收集時間取決于信號源的強度,檢測器的靈敏度和涂層重量(質量)。 較強的信號源和更靈敏的檢測器通常需要較短的數據收集時間。數據收集時間應足夠長以達到要求的精度。例如,如果N是給定時間間隔內計數器檢測到的計數數,則輻射檢測中的固有誤差等于√N。原則上,數據收集時間應足夠長以記錄10,000個計數,以達到61%的期望精度。

      6.5設備的校準對測量精度有非常重要的影響。待測材料的涂層成分必須與校準標準相似。如果基板對X射線信號有任何影響,則兩個基板必須相似。表面粗糙度和涂層成分偏析的顯著差異也可能對測量精度產生不利影響。標準的涂層重量(質量)范圍必須超過待測材料的重量(質量)范圍,并且必須在設備的有效范圍內。

      6.6在線或在工廠環境中進行測量時,需要采取額外的預防措施。

      6.6.1清潔度測量儀器窗口必須保持清潔,以避免對X射線信號產生任何干擾。一層含有金屬粉末的磨粉通常比油和水分更有害。

      6.6.2穩定性設備應保持在穩定的溫度下,以避免因溫度引起的任何不穩定。必須補償儀器和材料間隙中空氣溫度變化對X射線測量的影響。儀器和薄板之間的間隙必須均勻,并在設備的規格范圍內。涂層重量(質量)讀數的過度變化可能是由于帶材平整度(例如,波狀邊緣)等條件導致帶材通過線的變化造成的。

      6.6.3平均時間在線測量期間,設備必須使用適合檢測涂層重量(質量)變化的平均時間進行操作,而不會對測量精度產生不利影響。很長的平均時間會掩蓋涂層的變化,導致對平均涂層重量(質量)的誤導性指示。很短的平均時間將產生不可靠的結果。(可接受的組合見表1

       

      7. 校準和調整Calibration

      7.1概述當為建立儀器校準而讀取儀器讀數時,應使用與被測材料上使用的儀器條件完全相同的儀器條件。為了減少統計波動的影響,校準標準的測量時間可能比被測材料的測量時間長。

      7.2標準如果要獲得準確的結果,任何類型的X射線設備的校準必須使用可靠的標準。應當理解的是,長時間的計數不會補償不可靠的標準。經單位面積重量(質量)認證的校準標準適用于成分相同的涂層。單位面積的重量(質量)測量不需要相同的密度。校準標準應使用與被測材料相同的涂層和基底材料以及相同的涂層技術。當與標準稱重技術相關時,必須非常小心地選擇樣品,因為在稱重稱重試驗程序中涂層被破壞。建議取樣時選擇一個約9×9 in. [230×230 mm]的均勻區域。這可以通過使用X射線熒光儀來測量,以找到均勻信號的區域,從該區域開始,五個稱重條稱樣品被切割成十字狀,其中中心樣品在縱向上與另外兩個樣品一致,在橫向上與另外兩個樣品一致。如果四個衛星樣品的涂層重量(質量)的化學測定結果一致在3%以內,則中心樣品的涂層重量可假定等于四個樣品的平均值,并可視為良好的校準標準。如果無法從任何可靠來源獲得代表特定類型涂層和基底的標準,則可進行其制備,但前提是有受過培訓的人員。

      ......

      7.4儀器應使用與被測儀器具有相同涂層和基材的重量(質量)標準進行校準。

      7.5校準標準的涂層必須具有與被測涂層相同的X射線發射(或吸收)特性。如果標準涂層與待測涂層處于相同的條件下,則可假定X射線性能相同。如果標準上的涂層是相同的,但不是在已知的與被測涂層相同的條件下生產的,則在單位面積測量的重量(質量)中,假設X射線特性相同,前提是驗證了6.3中討論的試樣特性與標準和試樣相同。

      7.6如果通過X射線吸收技術確定重量(質量),重量(質量)標準的基體應具有與試樣相同的X射線發射特性。應通過比較兩種未涂層基材的選定特征輻射強度來驗證這一點。

      7.7X射線吸收技術中,除非超過6.2中規定的臨界厚度,否則試樣的基底厚度和校準標準應相同。

      7.8如果待測涂層的曲率妨礙在平坦表面上進行校準,則標準和試樣的曲率應相同。

      image.png//// 

      1A)取樣寬度(2.54.0in.[65100mm];(B)與帶鋼邊緣的距離(2in.[50mm] ± 0.25in.[6mm]。

      1 邊緣、中心、邊緣數據點位置

      image.png//// 

      2 標準試驗條件下的儀表響應

      2 涂層重量(質量)取樣寬度和位置規范

      image.png//// 

      AX射線管和同位素涂層重量計用于確定是否符合涂層重量(質量)規范時,其精度已降低到1.3 oz/ft2/[400 g/m2/],鋅涂層0.066 oz/ft2/[20 g/m2/],鋁涂層0.82 oz/ft2/[250 g/m2/]

       

      8. 程序Procedure

      8.1按照制造商的說明操作每臺儀器,注意第6節中列出的因素。根據第7節校準儀器。

      8.2單個數據點的定義儀器的操作方式應符合表1的要求。

      8.2.1熒光面積熒光涂層面積應在1.55in.2[9703200mm2]之間。用于X射線管測量儀,514in.2[32009000mm2]用于同位素測量儀。

      8.2.2橫向掃描速度—當儀器在移動的鋼帶上以橫移方式操作時,掃描速度應為在最大鋼帶寬度4in. [100mm]內測得的小于1%的測試誤差的速度。圖1為基于標準測試條件的帶鋼寬度上的測試位置。標準試驗條件如圖2所示;即,對于涂層重量(質量)的10%階躍,測量并分配給數據點的涂層重量(質量)值應為初始值加上最小階躍值的90%??赏ㄟ^基于儀器使用的時間常數或掃描速度的計算或通過實際測量來確定是否符合本測量標準。在任何情況下,橫向掃描速度不得小于1in./s [25mm/s],確定一個數據點所用的時間也不得超過4s。

      8.2.3停留時間當儀器在停留模式下運行時,應適用8.2.2標準試驗條件的要求,用于確定一個數據點的最長時間應為4s。

      8.3涂層重量(質量)取樣寬度和位置儀器的操作方式應符合表2的要求。應使用表征涂層重量(質量)的三點法,可在掃描停留模式下獲得。

      ......

       

      9. 精度和偏差Precision and Bias

      9.1精密度由于本試驗方法中沒有可接受的標準物質來測定本程序的精密度,因此精密度尚未測定

      9.2偏差由于本試驗方法中沒有可接受的用于確定程序偏差的參考材料,因此未確定偏差。

       

      10. 相關記錄表式 Record Form

      JC-YS-2019-023 電化學原始記錄表

      JC-ZL-0808 儀器設備使用記錄表

       

      11. 參考文件Reference

      ASTM A754/A754M-18 Standard Test Method for Coating Weight (Mass) of Metallic Coatings on Steel by X-Ray Fluorescence

       

      如需查看完整版,請聯系致電0512-6883-0001


      轉載請注明精川材料檢測地址:www.ahmedelazab.com

      《上一頁 下一頁》

      日韩乱码无码